厚度和外形尺寸的測量
8.1絕緣厚度的測量
8.1.1概述
絕緣厚度的測量可以作為一項單獨的試驗，也可以作為其他試驗如機械性能試驗過程中的一個步驟。
在所有情況下，取樣方法均應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標準的規(guī)定。
8.1.2測量裝置
讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均應(yīng)至0.01mm。當測量絕緣厚度小于0.5mm時，則小數(shù)點后第三位數(shù)為估計讀數(shù)。有爭議時，應(yīng)采用讀數(shù)顯微鏡測量作為基準方法。
8.1.3試件制備
從絕緣上去除所有護層，抽出導(dǎo)體和隔離層（若有的話）。小心操作以免損壞絕緣，內(nèi)外半導(dǎo)電層若與絕緣粘連在一起，則不必去掉。
每一試件由一絕緣薄片組成，應(yīng)用適當?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿著與導(dǎo)體軸線相垂直的平面切取薄片。
無護套扁平軟線的線芯不應(yīng)分開。
如果絕緣上有壓印標記凹痕，則會使該處厚度變薄，因此試件應(yīng)取包含該標記的一段。
8.1.4測量步驟
將試件置于裝置的工作面上，切割面與光軸垂直。
a）當試件內(nèi)側(cè)為圓形時，應(yīng)按圖1徑向測量6點。如是扇形絕緣線芯，則按圖2測量6點；b）當絕緣是從絞合導(dǎo)體上截取時，應(yīng)按圖3和圖4徑向測量6點；c）當試件外表面凹凸不平時，應(yīng)按圖5測量6點；d）當絕緣內(nèi)、外均有不可去除的屏蔽層時，屏蔽層厚度應(yīng)從測量值中減去，當不透明絕緣內(nèi)、外均有不可除去的屏蔽層時，應(yīng)使用讀數(shù)顯微鏡測量；
截面積的測量
a）啞鈴試件
每個試件的截面積是試件寬度和測量的最小厚度的乘積，試件的寬度和厚度應(yīng)按如下方法測量。
寬度：
任意選取三個試件測量它們的寬度，取最小值作為該組啞鈴試件的寬度；一如果對寬度的均勻性有疑問，則應(yīng)在三個試件上分別取三處測量其上、下兩邊的寬度，計算上、下測量處測量值的平均值。取三個試件的9個平均值中的最小值為該組啞鈴試件的寬度。如還有疑問，應(yīng)在每個試件上測量寬度。
厚度：
一每個試件的厚度取拉伸區(qū)域內(nèi)三處測量值的最小值。
應(yīng)使用光學(xué)儀器或指針式測厚儀進行測量，測量時接觸壓力不超過0.07N/mm2。測量厚度時的誤差應(yīng)不大于0.01mm，測量寬度時的誤差應(yīng)不大于0.04mm。如有疑問，并在技術(shù)上也可行的情況下，應(yīng)使用光學(xué)儀器。或者也可使用接觸壓力不大于
0.02N/mm2的指針式測厚儀。
注：如果啞鈴試片的中間部分成弧狀，可使用帶合適弧形測量頭的指針式測厚儀。
b）管狀試件
在試樣中間處截取一個試件，然后用下述測量方法中的一種測量其截面積A（單位為mm2）。
如有疑問，應(yīng)使用第二種方法b2）。
b1）根據(jù)截面尺寸計算：
A=x（D-8）8