兒童智能跟蹤器CE認(rèn)證,證書(shū)辦理
隨著可穿戴設(shè)備的不斷發(fā)展,兒童智能手表市場(chǎng)逐漸興起。家長(zhǎng)可以使用智能手表實(shí)現(xiàn)對(duì)孩子的實(shí)時(shí)定位和通話監(jiān)控;孩子們也可以通過(guò)智能手表隨時(shí)聯(lián)系父母,遇到危險(xiǎn)時(shí)尋求緊急幫助。智能手表以其安全方便的優(yōu)勢(shì)迅速贏得了孩子和家長(zhǎng)的信任,成為許多中小學(xué)生的必備品。
這類(lèi)產(chǎn)品出口歐洲需要做相應(yīng)的CE認(rèn)證及ROHS報(bào)告。
而小家電一般都需要做CE-LVD+EMC指令的,一般還需要做ROHS2.0。
“CE”標(biāo)志是一種安全認(rèn)證標(biāo)志,被視為制造商打開(kāi)并進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的護(hù)照。CE代表歐洲統(tǒng)一(CONFORMITE EUROPEENNE) 。
兒童智能跟蹤器ce認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目主要有:
EMC可以分為2小類(lèi):電磁場(chǎng)方面干擾大小(EMI) 和抗干擾能力(EMS)
EMI測(cè)試的項(xiàng)目:
Radiated Emission-輻射騷擾測(cè)試
Conducted Emiss ion-傳導(dǎo)騷擾測(cè)試
Harmonic-諧波電流騷擾測(cè)試
Flicker-電壓變化和閃爍測(cè)試
EMS測(cè)試的項(xiàng)目:
ESD-靜電抗擾度測(cè)試
RS-射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試
CS-射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試
DIP-電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試
SURGE-浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試
EFT-電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
PFMF-工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
測(cè)試目的:檢測(cè)電器產(chǎn)品能否在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作,不受影響。
CE- LVD測(cè)試項(xiàng)目:
LVD即為低電壓指令,俗稱(chēng):電子電器安全測(cè)試
Input test功率測(cè)試
Heating test溫升測(cè)試
Humidity test濕度測(cè)試
Glow-wire test灼熱絲試驗(yàn)態(tài)測(cè)試
Over Load test過(guò) 載測(cè)試
Leakage current measur ements漏電流測(cè)試
Electric Strength test耐壓測(cè)試
Earth cont inuity test接 地電阻測(cè)試
Cord anchorage test電源線拉力測(cè)試
Stability test穩(wěn)定性測(cè)試
Plug torque test插頭扭矩測(cè)試
Impact test沖 擊測(cè)試
Capacitor discharge test at plug插 頭放電測(cè)試
Fault conditions test元 器件破壞測(cè)試
Working voltage measurement.工作電壓測(cè)試
Motor lock-rotor test 馬達(dá)堵轉(zhuǎn)測(cè)試
Low and high temperature test高低溫測(cè)試
Tumbling test 滾筒跌落測(cè)試
Insulat ion resistance test絕緣電阻測(cè)試
Ball pressure test球壓測(cè)試
Screw Torque test螺絲扭力測(cè)試
Needle f lame test針焰試驗(yàn)
兒童智能跟蹤器CE認(rèn)證需要的基本資料:
1.客戶申請(qǐng)表(英文:產(chǎn)品名稱(chēng)、型號(hào)、申請(qǐng)人/制造廠地址);
2.產(chǎn)品型號(hào)及詳細(xì)技術(shù)參數(shù);
3.零部件和整體結(jié)構(gòu)的詳細(xì)圖片;
4.電器原理圖(電氣產(chǎn)品);
5.機(jī)械裝配圖和關(guān)鍵零部件圖紙;
6.銘牌(字體,CE符號(hào));
7.產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū),安裝,維護(hù)(英文版);
8.零部件清單(產(chǎn)品名稱(chēng)、制造商)。
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